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This book provides an up-to-date overview of the various wood and tree fungi that damage trees, lumber, and timber. Special focus is given to identification, prevention, and remediation techniques, and the book bridges the gap between research and application. It covers the fundamentals of cytology and morphology. There is a more practical section describing damage by viruses and bacteria on trees. The habitats of wood fungi are described as well as tree care. Important tree pathogens and wood decay fungi are characterized for prevention and identification. The final section focuses on the positive effects of wood-inhabiting microorganisms.
This book provides an up-to-date overview of the various wood and tree fungi that damage trees, lumber, and timber. Special focus is given to identification, prevention, and remediation techniques, and the book bridges the gap between research and application. It covers the fundamentals of cytology and morphology. There is a more practical section describing damage by viruses and bacteria on trees. The habitats of wood fungi are described as well as tree care. Important tree pathogens and wood decay fungi are characterized for prevention and identification. The final section focuses on the positive effects of wood-inhabiting microorganisms.
Holz- und Baumpilze sind nicht nur fur den Mykologen interessant.
Durch die Schaden, die sie am lebenden Baum, an lagerndem und
verbautem Holz hervorrufen, sind sie auch fur den im Bereich der
Schadensverhutung und -sanierung arbeitenden Praktiker von
Bedeutung. Dieser Leitfaden fur Studium und Praxis gibt einen
aktuellen Gesamtuberblick uber holzverfarbende und -zerstorende
Pilze sowie Viren und Bakterien in Baumen und Holz.
Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universitat Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grossenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grossen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Ruckschlusse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benotigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sin
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