In solid state physics and in materials science the investigation of the connection between the properties of solids and their microstructure is of major importance. For crystalline materials this connection is related to the lattice structure, and it can be shown convinc ingly that the material properties depend on deviations from the ideal lattice structure in the majority of cases. For this reason a reliable detection and analysis of defects in "nearly perfect" crystals is necessary, and a sufficient spatial resolution of the methods applied is required. Because electrons on the one hand strongly interact with the matter to be investigated and on the other hand can easily be focused electron-optical methods are very advantageous for this purpose. They are used in the diffraction mode, in the imaging mode and in the spectroscopic mode. The attainable high lateral resolution in the imaging mode makes the application of electron microscopy especially effective. Although already valuable information on crystal defects can be gained by using the routine technique of diffraction contrast imagingl-3) which has a resolution of some 4 10 nm - in the special weak-beam technique ) of some nm -, the detection of crystal defects and inhomogeneities, resp. on an atomic or molecular level by the aid of high resolution electron microscopy gets increasing importance."

Die Elektronenmikroskopie als Methode zur direkten Abbildung submikroskopi- scher Strukturen hat in den letzten Jahrzehnten auf nahezu allen Gebieten der naturwissenschaftlichen, technischen und medizinischen Forschung auBerordentlich an Bedeutung gewonnen. Im vorliegenden Buch wird iiber den Einsatz der Elek- tronenmikroskopie in der Festkorperphysik lind in der Werkstofforschung be- richtet. Im Hinblick darauf, daB die moderne Werkstofforschung ihre wesentlichen Grundlagen in der Festkorperphysik hat, wurde der Kurztitel "Elektronenmikro- skopie in der Festkorperphysik" gewahlt. Das Buch ist in die beiden Teile "Elektronenmikroskopische Untersuchungs- verfahren" und "Anwendungen in der Festkorperphysik" gegliedert. Im erst en Teil werden die Moglichkeiten und Grenzen der in der Festkorperphysik eingesetzten elektronenmikroskopischen Untersuchungsverfahren beschrieben, wobei die zu- verlassige Interpretation elektronenmikroskopischer Aufnahmen (Bildentstehung, Bildauswertung) besondere Beachtung findet. Im Anwendungsteil des Buches sind - ohne Anspruch auf Vollstandigkeit zu erheben - diejenigen Gebiete der Fest- korperphysik und Werkstofforschung erfaBt, in denen die Elektronenmikroskopie einen wesentlichen Beitrag leisten kann. Neben einigen besonderen Ergebnissen aus verschiedenen Laboratorien in aller Welt konnte bei der Auswahl der zu be- handelnden Themen und Untersuchungsbeispiele weitgehend auf die im Institut der Autoren durchgefiihrten Arbeiten und daraus vorliegendem Bildmaterial zuriickgegriffen werden.