Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im
Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich ausserst bedeutenden
Gebietes der Testvorbereitung: die automatische
Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch
beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die
Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum
anderen auf die Bewaltigung moglichst grosser
Schaltungskomplexitaten. Besonderer Wert wurde auf eine prazise,
formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine
moglichst vollstandige Aufbereitung der einschlagigen Literatur und
somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enthalt eine Fulle
neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von
Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren ermoglichen,
und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt
anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. Ausserdem
wird mit SOCRATES das derzeit leistungsfahigste der aus der
Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert
vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben
gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des
Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der
automatischen Testmustergenerierung und der schnellen
Fehlersimulation. Daruber hinaus kann es als Richtschnur fur
Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und
Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt fur
Forschungsaktivitaten auf verwandten Forschungsgebieten.
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