Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (German, Paperback)

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universitat Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grossenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grossen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Ruckschlusse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benotigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sin

General

Imprint:	Examicus Verlag
Country of origin:	United States
Release date:	2013
First published:	August 2013
Authors:	Olaf Schmidt
Dimensions:	210 x 148 x 6mm (L x W x T)
Format:	Paperback - Trade
Pages:	96
ISBN-13:	978-3-86746-194-8
Languages:	German
Categories:	Books > Computing & IT > General theory of computing > General Books > Computing & IT > Computer programming > Programming languages > General
LSN:	3-86746-194-5
Barcode:	9783867461948

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