El estudio que se presenta esta basado en tecnicas
interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas
de usar un interferometro de doble ventana con rejilla de fase y
modulacion en polarizacion para estudio de objetos de fase delgada,
que esten estaticos y en movimiento, esto ultimo se logra
obteniendo los corrimientos de fase necesarios en una sola toma. En
primera instancia se analizan las caracteristicas de difraccion de
las rejillas de fase y los efectos que generan en los patrones de
interferencia en un interferometro de doble ventana. Los
corrimientos de fase necesarios se generan operando polarizadores
lineales sobre cada patron de interferencia generado en el plano
imagen del sistema.Cabe senalar que se hicieron los analisis
necesarios para poder usar placas retardadoras no disenadas para
operar a la longitud de onda del laser usado. La adicion de la
rejilla de fase y de usar luz polarizada circularmente, nos
permitio disenar un sistema dinamico y flexible de corrimiento de
fase y que ademas es un sistema estable mecanicamente."
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